電容測試儀儀器開(kāi)路校正功能能消除與被測元件相并聯(lián)的雜散導納（G,B)造成的誤差。開(kāi)路校正包括采用插入計算法的全頻開(kāi)路校正和對所設定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開(kāi)路校正。

            特別注意：當進(jìn)行開(kāi)路校正時(shí)應將測試夾具連接到電容測試儀儀器測試端。夾具開(kāi)路，不連接到任何被測元件。

             按軟鍵ON，使開(kāi)路校正有效，電容測試儀儀器將在以后的測試過(guò)程中進(jìn)行開(kāi)路校正計算。

             按軟鍵OFF,關(guān)閉開(kāi)路校正功能。以后的測量過(guò)程中將不再進(jìn)行開(kāi)路校正的計算。

           按軟鍵開(kāi)路全頻清，電容測試儀儀器將對可測試的頻率點(diǎn)的開(kāi)路導納（電容和電感）進(jìn)行測量。開(kāi)路全頻校正大約需要15秒的時(shí)間。在開(kāi)路全頻校正過(guò)程中，顯示軟鍵：放棄

           放棄軟鍵可中止當前的開(kāi)路校正測試操作。保留原來(lái)的開(kāi)路校正數據不變。